光電測量儀器根據(jù)測定時(shí)間t的方式，分為直接測定時(shí)間的脈沖測距法和間接測定時(shí)間的相位測距法。高精度的測距儀，一般采用相位式。

相位式光電測量儀器的測距原理是：由光源發(fā)出的光通過調(diào)制器后，成為光強(qiáng)隨高頻信號變化的調(diào)制光。通過測量調(diào)制光在待測距離上往返傳播的相位差φ來解算距離。

相位法測距相當(dāng)于用“光尺”代替鋼尺量距，而λ/2為光尺長度。

相位式測距儀中，相位計(jì)只能測出相位差的尾數(shù)ΔN，測不出整周期數(shù)N，因此對大于光尺的距離無法測定。為了擴(kuò)大測程，應(yīng)選擇較長的光尺。為了解決擴(kuò)大測程與保證精度的矛盾，短程測距儀上一般采用兩個(gè)調(diào)制頻率，即兩種光尺。例如：長光尺（稱為粗尺）f1=150kHz，λ1/2=1 000m，用于擴(kuò)大測程，測定百米、十米和米；短光尺（稱為精尺）f2=15MHz，λ2/2=10m，用于保證精度，測定米、分米、厘米和毫米。

公司主營：光學(xué)平臺,單色儀,光譜儀,太陽模擬器,氙燈,氘燈,汞燈,鹵素?zé)?激光器,光學(xué)平臺,橢偏儀,探針臺,探測器,數(shù)據(jù)采集器,位移臺,光具座,鎖相放大器